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泰克误码率分析仪

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产品名称: 泰克误码率分析仪
产品型号: BERTScope™BSA
产品展商: Tektronix泰克
会员价格: 0.00 元
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BERTScope™BSA系列泰克误码率分析仪为测量串行数据系统的信号完整性提供了一种新方法。通过把眼图分析与BER码型生成结合起来,您可以更迅速、更准确、更**地执行误码率检测。通过BERTScope BSA系列,您可以简便地隔离问题码和码型序列,然后通过七种高级误码分析功能,进一步展开分析,实现异常深入的统计测量能力。
泰克误码率分析仪特点:
1、泰克误码率分析仪主要特点和优点
●高达28.6 Gb/s 的码型发生、误码分析和BER 测试能力
●经校准的集成经校准的集成压力生成技术,满足多种标准压力接收机灵敏度和时钟恢复抖动容限测试要求
●*高100MHz 的正弦抖动(SJ)频率
●随机抖动(RJ)
●有界不相关抖动(BUJ)
●正弦干扰(SI)
●扩展频谱时钟
●PCIe 2.0和3.0接收机测试
●IEEE 802.3ba和32G光纤通道测试
●抖动裕量(Margin)测试、抖动容限一致性模板测试
●快速输入上升时间/高输入带宽错误检测器,准确分析信号完整性
●物理层测试套件,支持模板测试、抖动峰值、BER轮廓和Q因子分析,使用标准或用户自定义抖动容限模板库进行全方位测试
●集成的眼图和BER相关分析
●抖动分离及定位(Jitter Map)选件系统丰富的抖动解析 – 支持长码型(如PRBS-31)抖动三角测量,把基于BER的抖动分解功能扩展到Dual Dirac TJ、DJ和RJ限制之外,**分解抖动子成分
●砖利的误码定位分析技术(Error locations AnalysisTM),迅速了解BER性能限制,评估确定性误码与随机性误码,执行详细的码型相关误码分析,执行误码突发分析或无误码间隔分析
2、泰克误码率分析仪应用领域
●设计验证包括信号完整性、抖动和时序分析
●对高速串行系统、复杂设计的性能测试
●串行数据流和高性能网络系统认证测试
●设计/验证高速I/O 组件和系统
●信号完整性分析- 模板、峰值抖动、BER 轮廓、抖动分离及定位(Jitter Map)和Q 因子分析
●设计/验证光发射接收机
3、多域观测

眼图一直作为系统性能简单、直观的表现,但是很难和BER性能联系起来,因为测试仪器从根本上有很大的差别。示波器测量的眼图是由较少的测试样本组成,不容易发现一些罕见偶发的事件。误码仪 (BERT) 能够对每一个比特计数,因此能够提供基于很大量数据集样本的测试,但是测试结果缺乏对信息的直观的表征和故障排查。
BERTScope结合两者的优势,允许快速、简单的观测眼图,并比传统的眼图测试样本多至少多两个数量级。可以按照上图的例子中所示的那样,通过简单的移动BERT 的采样点,将光标放在感兴趣的地方,使用强大的误码分析能力,获得更多更深入的信息。例如,检查码型对当前上升沿影响的敏感程度。或者,使用一键式BER 轮廓测量,检验是否性能问题是有界的,或者可能会导致哪些故障。在每一个例子里,测试样本码型可以是231-1的伪随机码,可以帮助建立模型或者故障定位。
4、数据丰富的眼图

BERTScope 测试光接口信号。在这个例子中自动切换光域测量。
正如前面所示,BERTScope 在测量数据样本深度方面与传统的眼图测试有着巨大的差异。这个差异意味着你能看到更加真实的情况,无论是什么样的系统,更多低概率事件将会随着每次长数据码型运行而出现,不管是有随机噪声,还是从VCO引起的随机抖动。通过一键式的BER Contour、抖动峰值和Q-因子测试,能够增加对系统更深层次的认识,增加对设计的信心。
5、深度模板测试

由于可以改变采样深度,因此BERTScope 即可以利用深度测量,得到高精度的系统的性能,又可以用少量样本测试,和取样示波器的测试结果匹配。在上图所示的是光接口的眼图测试。如果将BERTScope的采样深度仅设置为3000 个波形,BERTScope 在1 秒钟之内就能生成眼图。测量得到的裕量有20%,和取样示波器的测试结果一致。下面一点的图显示的是使用一致性轮廓测量得到的误码率水平为10-6的结果,模板裕量减少到17%。
眼图测试样本深度优势至少是模板测试的10倍。不像其他误码仪提供的“伪”模板测试那样,BERTScope能对模板边沿的每一个样点进行采样,包括在眼图之上和之下的区域。不仅如此,每一个点都能看到之前从未看到过的深度。这意味着既是使用工业标准化模板或自定义模板持续测试几秒钟,也能确保被测设备没有隐藏的问题。
6、为工业标准提供高精度的抖动测试
无论测试码型的长短,靠推算得到抖动结果得方法是不能达到最高抖动测量精度的。BERTScope 能快速测量误码率水平为10-9(高速信号可达10-10),或者等待仪器直接测量到10-12水平。对于这两种测试方法,BERTScope 的一键式测量都严格符合MJSQ 定义的抖动测试方法,并且BERTScope 中内部的延迟 控制是误码仪中最好的,可以确保抖动测试的精度。可使用内建的抖动计算模型,包括TJ,RJ,DJ,或者将测试数据输出,进行自定义的抖动建模分析。
BSA286C的低固有RJ可以同时满足802.3ba的VECP(垂直眼图闭合代价)和J2/J9校准,并提供所需的重要裕量,**检定100G以太网芯片。
7、模板一致性轮廓测试
目前许多的测试标准像XFP/XFI和OIF CEI等都定义模板测试,其目的是确保在误码率水平为10-12时眼的张开度。一致性轮廓(等高线)视图可以方便的了解到在不同误码率水平下模板是否通过。
8、快速选型指南
型号
*大比特率
带压力眼图 – SJ, RJ, BUJ, SI
类型
BSA286C
28.6 Gb/s
Opt. STR2
信号发生器/ 分析器
BSA260
26 Gb/s
Opt. STR
信号发生器/ 分析器
BSA175
17.5 Gb/s
Opt. STR
信号发生器/ 分析器
BSA125
12.5 Gb/s
Opt. STR
信号发生器/ 分析器
BSA85
8.5 Gb/s
Opt. STR
信号分析器
9、灵活的时钟模式

BERTScope STR 选项的时钟路径
BERTScope 非常有特色时钟产生路径,为现实世界中不断涌现出的设备提供了灵活的测试方案。无论是电脑插卡还是硬盘,通常都需要提供子速率(sub-rate)系统时钟,例如PCIExpress中100MHz的时钟。为了能使被测系统正常工作,需要提供差分的系统时钟,而且时钟的幅度、偏置各有不同;BERTScope 内部提供灵活的分频系数,其灵活构架可以完成各种时钟的生成。

泰克误码率分析仪技术参数:
1、数据输出
特性
说明
数据率范围
BSA85C
0.1-8.5Gb/s
BSA125C
0.1-12.5Gb/s
BSA175C
0.5-17.5Gb/s
BSA260C
1-26Gb/s
BSA286C
1-28.6Gb/s
码型格式
NRZ
极性
正常或反相
可变交叉点电平范围
25 to 75%
码型
硬件码型
工业标准的PRBS码型:2n–1where n=7,11,15,20,23,31
RAM 码型
BSA85C
BSA125C
BSA175C
BSA260C
BSA286C
128位~128Mb。每个A/B 页面中A或B各有32Mb,共两组A/B页面。单页面最大128Mb。
码型数据库
基于K28.5或CJTPAT码型的SONET/SDH,Fibre Channel码型;2n码型,n=3,4,5,6,7,9;2n标记密度码型, n=7,9,23;其他
误码插入
长度
1,2,4,8,16,32,64 长度突发序列
频率
单词或者重复
2、数据,时钟 幅度s and Offsets
特性
说明
配置
差分输出,差分每一路可独立设置端接、幅度和偏置
接口
DC 耦合,50欧姆反向端接。APC-3.5连接器。可选校准到75欧姆端接,其他阻抗通过面板输入。可更换的Planar Crown适配器,可换为其他类型连接器。
预设逻辑电平
LVPECL,LVDS,LVTTL,CML,ECL,SCFL
端接电压
–2V ~ 2V
预设值:1.5V,1.3V,1.0V,-2V,AC耦合
允许的幅度、端接和偏置电压
参见图1和图2
3、数据、时钟波形性能
型号
上升时间
抖动
BSA85C
25ps (*大), 23ps (典型) (10-90%)
1V幅度,10.31258.0 Gb/s
<10ps峰峰值(典型值,对于≥1Gb/s数据)
<0.025UI (典型值,数据率<1Gb/s)
BSA125C
BSA175C
BSA260C
8ps峰峰值 (典型值,数据率为25.078Gb/s 数据率)
BSA286C
<300fs RMS随机抖动<4 ps p-p数据相关抖动 (@14.05Gb/s,@16.0 Gb/s,@25.781Gb/s,@28.05Gb/s)
4、时钟/数据延迟
特性
说明
范围
(以下情况全部大于1比特周期)
≤ 1.1GHz
30ns
> 1.1GHz
3ns
分辨率
100fs
自校率
在时间测量时,当温度或者比特率改变,推荐进行仪器自校准。校准过程小于10s
5、外部时钟输入
特性
说明
允许外部输入时钟信号同步BERTScope。
带有压力测试选件的模块可以对输入的时钟增加损伤,包括当外部输入时钟信号 有超过5000ppm的SSC的情况。
频率范围
BSA85C
0.1 to 8.5GHz
BSA125C
0.1 to 12.5GHz
BSA175C
0.5 to 17.5GHz
BSA260C
1 to 26GHz
BSA286C
1 to 28.6GHz
定额功率
900mVpp(+3dBm)
*大功率
2.0Vpp(+10dBm)
回波损耗
优于–6dB
接口
50 欧姆SMA 母头,DC 耦合,可选的端机电压
6、高频抖动(仅在STR 选项中有效)
特性
说明
两个抖动输入端中的一个。可以插入所需的SJ、RJ和BUJ
频率范围
DC到1.0 GHz
抖动输入幅度
*大0.5UI
输入电压范围
额定电压0~2Vpp(10dBm)
*大非损伤电压6.3Vpp(20dBm)
数据率范围
支持数据速率范围:1.5 - 8.5 Gb/s (BSA85C), 12.5 Gb/s (BSA125C), 17.5 Gb/s (BSA175C)或, 22.4 Gb/s (BSA260C)或28.6 Gb/s (BSA286C),性能限定在622 Mb/s (不包括BSA260CBSA286C)
接口
SMA母头,50欧姆,DC耦合,端接电压0V
7、子速率时钟输出
特性
说明
BERTScope 标配型号输出4倍分频时钟
BERTScope STR 选项提供有额外分频时钟输出的性能
频率范围
0.125到3.125GHz(STR 选项可到12.5GHz)
幅度范围
额定电压1Vp-p,偏置0V
跳变时间
<500ps
接口
SMA母头, 50 欧姆,DC耦合,端接电压0V
8、触发输出
特性
说明
提供了脉冲触发输出到外部仪器。有两种模式:
1. 时钟分频模式:每256 个时钟速率输出一个脉冲
2. 码型模型:PRBS 码型中可编程脉冲输出位置,或者固定脉冲输出位置(RAM 码型)
此模块被选用安装后,就可进行压力调制
*小脉冲宽度
128 个时钟周期(模式1)
512 个时钟周期(模式2)
跳变时间
<500ps
抖动(p-p,数据到触发)
<10ps, 典型值(BSA175C、 BSA260C和 BSA286C)
输出幅度
>300mVp-p,偏置 650mV
接口
50欧姆 SMA 母头
10、码型启动输入
特性
说明
用于多台仪器同时发送码型时使用.
逻辑电平
LVTTL (<0.5V 低, >2.5V 高)
门限电平
+1.2V 典型值
*大非损伤输入电压范围
–0.5V to +5.0V
*小脉冲宽度
128 连续时钟周期
*大重复率
512 连续时钟周期
接口
SMA 母头, >1K 欧姆阻抗,端接到0V
11、页面选择输入
特性
说明
在A-B页面选择模式中,可以通过外部控制码型。软件控制使用上升沿或下降沿触发,码型A完成后连续码型B,或者返回码型A运行码型B一次
逻辑电平
LVTTL (<0.5V低,>2.5V高)
门限电平
+1.2V典型值
*大非损伤输入电压范围
–0.5V ~ +5.0V
*小脉冲宽度
一个码型长度
接口
SMA母头,>1K欧姆阻抗,端接到0V
12、正弦干扰(Sinusoidal Interference)输出(仅对STR选件有效)
特性
说明
正选抖动从内部发生器输出。可以在外部ISI 干扰后应用正弦干扰。
频率范围
0.1-2.5GHz
输出电压
0-3Vp-p
接口
SMA 母头,>1K欧姆阻抗,端接到0V
13、低频抖动输入(仅对STR 选件有效)
特性
说明
允许使用外部低频抖动源对输出的码型加损伤
频率范围
DC 到 100MHz
抖动幅度范围
*大1.1ns,可以和其他内部低频调制一起使用
输入电压范围
额定电压0~2Vp-p(10dBm) *大非损伤电压 6.3Vp-p(20dBm)
数据率范围
*高11.2Gb/s(BSA125C)或者22Gb/s最高8.5 Gb/s(BSA85C), *高12.5Gb/s(BSA125C),*高17.5Gb/s (BSA175CCPG),或者22Gb/s (BSA260C)或28.6 Gb/s (BSA286C)
接口
SMA母头,50欧姆,DC耦合到0V
14、外参考输入(对XSSC 选件,BSA85C、BSA175C,CPG 或者BSA260C,CPG 有效)
特性
说明
锁定外部仪器参考时钟
频率
10,100,106.25,133.33,156.25,166.67,或200MHz
幅度
0.325 ~ 1.25Vp-p(–6 to +6dBm)
接口
SMA母头50欧姆,AC耦合
15、外参考输出(对XSSC 选件,BSA85C、BSA175C,CPG或者BSA260C,CPG有效)
特性
说明
提供频率参考源输出
配置
单端(Ref-OUT 未使用)(BSA125C)
差分
频率
10,100,106.25,133.33,156.25,166.67,或200MHz
幅度
每输出端口额定输出1Vp-p(+4dBm)差分2Vp-p
接口
SMA母头50欧姆,AC耦合